49.3. Eeprom hal device 功能测试

49.3.1. 概述

EEPROM HAL DEVICE 示例演示如何使用 EEPROM HAL 驱动程序接口来访问 EEPROM 设备。该示例默认使用板级 I2C 驱动的实体 EEPROM 设备来实现。

49.3.2. 板级设置

• 硬件无需特殊设置

49.3.3. 测试内容

• 基本功能：单字节读写测试

• 小块数据读写测试：页内非对齐地址读写测试

• 大块数据读写测试：跨页非对齐地址读写测试(防回卷测试)

49.3.4. 运行示例

当工程运行后，串口会打印以下信息：

EEPROM HAL sample test start.

--- Running Test: Basic I/O (Small Writes) ---
Testing single byte write at a known-good address (e.g., 0x42)...
[PASS] Single Byte I/O: Data verified successfully.
Testing a small, non-aligned write...
[PASS] Small Non-aligned Write: Data verified successfully.
--- [PASS] Basic I/O (Small Writes) ---

--- Running Test: Large Block, Multi-Page, Non-Aligned I/O ---
Writing a large block (150 bytes) from a non-aligned address (0xA)...
[PASS] Large Block Verification: Data verified successfully.
--- [PASS] Large Block, Multi-Page, Non-Aligned I/O ---
Result: ALL TESTS PASSED!
EEPROM HAL sample test done.

49.3.5. 扩展

• EEPROM HAL 组件支持 spi 驱动的实体 eeprom，如果用户板级有 spi eeprom 设备或者外接 spi 驱动的 eeprom，可以以当前示例为参考，修改 cmake 配置，启用 spi 设备支持，具体修改方法如下：

  set(CONFIG_EEPROM_DEVICE_SPI 1)

• 以上，启用 spi eeprom 的驱动宏后，就会自行将组件加入工程，而如何使用 spi eeprom 驱动，用户可以参考 eeprom_hal 组件下的 README。