50.4. Eeprom hal emulation 功能测试

50.4.1. 概述

本示例演示如何使用 EEPROM HAL 驱动接口访问 EEPROM 存储。默认使用 e2p_emulation 组件（基于 Flash 的 EEPROM 模拟），因此无需外接物理 EEPROM 硬件。同一套 HAL API 也可通过注册其他驱动用于物理 EEPROM 设备。

50.4.2. 板级设置

使用模拟后端时无需额外硬件（使用板载 NOR Flash）。

50.4.3. 配置说明

模拟相关参数在 main.c 中定义：

宏	说明
BOARD_APP_EEPROM_EMU_ERASE_SIZE	Flash 擦除单元大小（默认 4096 字节）
BOARD_APP_EEPROM_EMU_SECTOR_COUNT	扇区数量，必须为偶数（默认 32）
BOARD_APP_EEPROM_EMU_START_ADDR	模拟区域起始地址（由 Flash 大小及上述参数推导）

模拟区域位于板载 NOR Flash 末尾（双半区设计，用于掉电保护）。

50.4.4. 测试内容

示例运行两类测试：

基本 I/O（小块写入）
- 在固定地址（如 0x42）单字节写入与读取
- 非对齐小块写入（地址 5 处 7 字节）并读回校验
大块、跨页、非对齐 I/O
- 从非对齐地址 0xA 写入 150 字节
- 验证跨页与防回卷行为
- 读回并比较数据

测试均通过 HAL API：hpm_eeprom_write_block() 与 hpm_eeprom_read_block() 完成。

50.4.5. 使用步骤

将模拟参数注册到设备结构体：

e2p_emu_xpi_host_config_t emu_host = { .base = BOARD_APP_XPI_NOR_XPI_BASE };
e2p_emu_xpi_attribute_config_t emu_config = {
    .flash_base_addr = BOARD_FLASH_BASE_ADDRESS,
    .version = 0x4553,
    .opt_header = BOARD_APP_XPI_NOR_CFG_OPT_HDR,
    .opt0 = BOARD_APP_XPI_NOR_CFG_OPT_OPT0,
    .opt1 = BOARD_APP_XPI_NOR_CFG_OPT_OPT1,
    .start_addr = BOARD_APP_EEPROM_EMU_START_ADDR,
    .erase_size = BOARD_APP_EEPROM_EMU_ERASE_SIZE,
    .sector_cnt = BOARD_APP_EEPROM_EMU_SECTOR_COUNT,
};
hpm_eeprom_device_t dev = {
    .host = &emu_host,
    .flag = EEPROM_FLAG_EMULATION_XPI,
    .config = &emu_config,
};
e2p_emulation_xpi_register_param(&dev);

向 HAL 注册设备并打开：

hpm_eeprom_register(&dev, "e2p_test");
hpm_eeprom_device_t *device = hpm_eeprom_find("e2p_test");
hpm_eeprom_init(device);

使用 HAL 读写 API：

hpm_eeprom_write_block(device, addr, len, data);
hpm_eeprom_read_block(device, addr, len, buf);

50.4.6. 运行示例

工程运行后，串口会输出初始化与测试结果。使用 e2p_emulation 组件时，初始化输出类似：

EEPROM HAL sample test start.

------------ flash->eeprom init ok -----------
start address: 0x80fc0000
sector count: 16
flash erase granularity: 4096
version: 0x4553
end address: 0x80fd0000
data write addr = 0x80fc013c, info write addr = 0x80fcff84, remain flash size = 0xfe48
valid count percent info count( 3 / 6 )
----------------------------------------------

随后为测试输出：

--- Running Test: Basic I/O (Small Writes) ---
Testing single byte write at a known-good address (e.g., 0x42)...
[PASS] Single Byte I/O: Data verified successfully.
Testing a small, non-aligned write...
[PASS] Small Non-aligned Write: Data verified successfully.
--- [PASS] Basic I/O (Small Writes) ---

--- Running Test: Large Block, Multi-Page, Non-Aligned I/O ---
Writing a large block (150 bytes) from a non-aligned address (0xA)...
[PASS] Large Block Verification: Data verified successfully.
--- [PASS] Large Block, Multi-Page, Non-Aligned I/O ---

Result: ALL TESTS PASSED!
EEPROM HAL sample test done.