50. EEPROM

• 50.1. EEPROM 模拟基础功能测试
  • 50.1.1. 概述
  • 50.1.2. 组件特点
  • 50.1.3. 测试内容
  • 50.1.4. Flash 区域布局
  • 50.1.5. 状态机与掉电保护
  • 50.1.6. 配置参数
  • 50.1.7. 使用步骤
  • 50.1.8. 注意事项
  • 50.1.9. 运行示例
• 50.2. EEPROM 模拟性能测试
  • 50.2.1. 概述
  • 50.2.2. 测试参数
  • 50.2.3. 性能指标
  • 50.2.4. 使用方法
  • 50.2.5. 输出示例
  • 50.2.6. 注意事项
• 50.3. Eeprom hal device 功能测试
  • 50.3.1. 概述
  • 50.3.2. 板级设置
  • 50.3.3. 测试内容
  • 50.3.4. 运行示例
  • 50.3.5. 扩展
• 50.4. Eeprom hal emulation 功能测试
  • 50.4.1. 概述
  • 50.4.2. 板级设置
  • 50.4.3. 配置说明
  • 50.4.4. 测试内容
  • 50.4.5. 使用步骤
  • 50.4.6. 运行示例